July 31, 2024

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Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l'échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB ou MEB de paillasse). La nouvelle génération de Microscope Electronique à Balayage de table MiniMEB® Hitachi TM4000 et TM4000 Plus répond aux besoins de tous les laboratoires qui souhaitent contrôler la topographie de leurs échantillons de l'échelle millimétrique à l'échelle submicronique et d'en déterminer leur composition chimique. Trm 4000 d’occasion | Plus que 2 exemplaires à -60%. Le nouveau dispositif de visualisation optique de l'échantillon permet de facilement localiser les zones d'intérêt et de naviguer automatiquement sur des portes échantillons multiples. Le mode « pression contrôlée » permet l'observation directe de tous types d'échantillons, conducteurs ou isolants, secs gras ou humides. Un détecteur d'électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu'à des grandissements de x250.

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Les dernières générations de polisseur ionique Hitachi sont adaptées à la préparation de grandes surfaces. Les polisseurs ioniques IM4000 Plus et ArBlade 5000 sont compatibles pour: -le polissage ionique des « Cross Sections »: utilisé pour produire des sections transversales larges et uniformes sans appliquer de contrainte mécanique à l'échantillon -le polissage ionique à plat de grands échantillons, appelé aussi « flatmilling »: permet d'éliminer les artéfacts de surface et de finaliser/peaufiner le polissage après un polissage mécanique. Ils permettent entre autre le: -Positionnement précis de l'échantillon sur la platine amovible -Refroidissement de l'échantillon -Programmation de séquences -Suivi via un microscope optique complémentaire (option)

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La nouvelle génération de Microscope Electronique à Balayage de table MiniMEB® Hitachi TM4000 II et TM4000 Plus II répond aux besoins de tous les laboratoires qui souhaitent contrôler la topographie de leurs échantillons de l'échelle millimétrique à l'échelle submicronique et d'en déterminer leur composition chimique. Le nouveau dispositif de visualisation optique de l'échantillon permet de facilement localiser les zones d'intérêt et de naviguer automatiquement sur des portes échantillons multiples. Le mode « pression contrôlée » permet l'observation directe de tous types d'échantillons, conducteurs ou isolants, secs gras ou humides. Un détecteur d'électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu'à des grandissements de x250. 000 (x100. La presse à sertir universelle TM-4000 de Molex. 000 en format polaroid). Les informations d'extrême surface sont révélées par l'utilisation d'une faible tension d'accélération combinée à un excellent rapport signal sur bruit.

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